XPS／UPS実践講習会

X線光電子分光法（XPS： X-ray Photoelectron Spectroscopy）は主として内殻準位から励起される光電子を測定する手法であり、典型的に数ナノメートル程度の極表面における化学状態の分析、異物の同定、超薄膜コーティングの厚さ評価などに活用されています。紫外線を用いた紫外光電子分光法（UPS： Ultraviolet Photoelectron Spectroscopy）はXPSに比べてエネルギー分解能が高く、価電子帯近傍の電子状態を詳細に測定でき、仕事関数やイオン化ポテンシャルの評価などに使用されます。本講習会では、XPSとUPSを組み合わせた分析の実習を行い、基礎的な実用上の要所を学ぶことを目的としています。

【日 時】　2019年10月10日（木）10時00分～14時00分

【場 所】 奈良工業高等専門学校　物質化学工学科機器分析センター

　　　　　　（〒639-1080奈良県大和郡山市矢田町22番地）

【参加者】　※募集終了 

【機　器】　X線光電子分光分析装置 (XPS)　

アルバック・ファイ製　ESCA 3057特型装置

【講 師】　奈良工業高等専門学校物質化学工学科　准教授　山田裕久氏

【主　催】 自然科学研究機構　分子科学研究所（大学連携研究設備ネットワーク）

【プログラム】

10月10日（木）　集合

10：00－11：00　　奈良高専のXPS／UPS概略の紹介

11：00－13：30　　シリコンを用いた分析の実習

13：30－14：00　 　データ解析実習

＊＊大学連携研究設備ネットワーク事務局

〒444-8585

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自然科学研究機構　分子科学研究所

機器センター（担当：大原）

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