透過電子顕微鏡セミナー

近年の高度な技術的課題や厳密な品質管理への迅速な取り組みにおいて、先端分析設備の果たす役割がますます重要になってきています。当設備共用部門では、先端分析設備の計画的な整備・更新を行うと共に、広く学内外の皆さまにご活用いただけるよう活動しております。
本講演会では、現在導入中の電界放出形透過電子顕微鏡（JEM-F200）について、日本電子株式会社様から講師をお招きし、本装置の特徴や新機能紹介をはじめ実際の測定事例についてご講演を頂く運びとなりました。
また、希望者にはセミナー終了後に実機の見学を行います。併せて、学内外問わず分析のご相談等もお受けいたします。
皆さまの教育活動をはじめ、研究開発ならびに企業経営に当設備共用部門をご活用いただく契機として、本講演会へのご参加をお待ちしております。

【日時】2025年2月6日（木） 13：30～15：30
【場所】名古屋工業大学4号館1階110室
（Microsoft Teamsによる同時オンライン配信あり）
【参加費】無料
【内容】
「多機能電子顕微鏡JEM-F200のご紹介」
（主な発表内容）
・装置のハードウェア（Cold-FEG、Dual SDD、SPECPORTER™など）
・装置のソフトウェア（TEM Centerや統合分析プラットフォームFEMTUS™など）
・取得可能なアプリケーション例
「TEM (JEM-F200)見学会」

【詳細・お申し込み】
https://kiki.web.nitech.ac.jp/eq-seminar20250206/

【問い合わせ先】
名古屋工業大学 産学官金連携機構 設備共用部門
TEL：052-735-5533
E-mail：oogata-jim@adm.nitech.ac.jp
URL：https://kiki.web.nitech.ac.jp/