XPS解析・解釈セミナー（全2回）

【目的】XPSの解析・解釈には基礎原理の理解に加え、多くの経験値が必要です。XPSの基礎原理は理解しているが、より詳細なデータ解析、解釈を学びたい人を対象としています。
第一回では実際の材料解析事例（特に、電池材料や薄膜材料、また参加者の希望に準じた材料）を中心に、それらの試料をどう測定・解析するのかを解説します。
第二回では部分帯電（不均一帯電）など絶縁物試料をいかに測定するか、ピーク分離や状態解析のテクニックを解説します。
どちらも一般的な分析装置セミナーでは学ぶことができないような、より実践的な内容となっており、そのため、アーカイブの配信は行いません。

【開催日時】
第1回　2025年7月9日（水）13：30～15：00
第2回　2025年7月24日（木）13：30～15：00

【場所】オンライン形式（横浜国立大学より配信）

【問い合わせ先】
・申し込みに関する問い合わせ
分子科学研究所　機器センター　大学連携研究設備ネットワーク事務局
E-mail：eqnet-office@ims.ac.jp

・講義内容に関する問い合わせ
横浜国立大学　研究推進機構　機器分析評価センター
E-mail：iac@ynu.ac.jp

【講師】
第1回　志智 雄之 氏（横浜国立大学　研究推進機構　機器分析評価センター　非常勤講師　工学博士）
第2回　塩沢 一成 氏（（現）株式会社X線サイエンス/（元）株式会社三井化学分析センター）

【参加対象者】大学・研究機関・公的機関に所属する技術系スタッフ（パート、派遣等含む）
※学生の方は個別にお問い合わせください。

【定員】特になし
※現地（横浜国立大学）にて聴講も可能です。なお、会議室の定員は30名です。お申込み時にご連絡ください。（先着順）

【申し込み】https://forms.gle/cYDht56AHraQWqib8
締切：開催日前日まで申し込み可（申し込み後にオンライン配信用URLをお知らせします）

【主催】大学連携研究設備ネットワーク

【プログラム】
2025年7月9日（水）
13：30～15：00
分析の実施例（リチウム二次電池、複合酸化物、トライボロジー、機能性薄膜、電子材料など※）、測定データの精度把握、他の表面分析との比較（利点・弱点、使い分けなど）
※ 申し込み時に取り扱ってほしい材料をリクエストできます。可能な限り希望に合わせた実施例を紹介します。

2025年7月24日（木）
13：30～15：00
部分帯電（不均一帯電）など絶縁物試料の測定事例,ピーク分離や状態解析のテクニックとその解釈
前半は、部分帯電についてその問題が顕在化した背景まで遡って説明したいと考えております。後半はピーク分離を中心にして、より意味のある解釈をするために工夫してきたことを踏まえた話にしたいと構想しています。（この先、資料作成の過程で上記の趣旨から若干外れる可能性もありますことを事前にご了解ください。）